半导体功率循环老化检测设备

2022-07-18

半导体功率循环老化检测设备
CXPC-2000A10V4C鲁欧智造
www.luology.com
主要功能
2
瞬态热测试
符合JEDEC 51-1、JEDEC 51-14热测试规范(静态法)
可测试各类功率器件(IGBT、Diode、MOSFET),获得热瞬态响应曲线
对器件结温测量达到0.01°C的超高精度
最大1MHz的多段变速数据采集
功率循环测试
有机整合温度循环测试与瞬态热测试,在温度循环的同时对结构变化进行实时监测
无需在温度循环过程中暂停试验取出样品到第三方机构进行检查
可以同时对最大16个样品进行功率循环测试
可以同时实施4种不同的电流策略
每个电源通道可最大驱动4个串联的器件进行测试
热结构分析
根据JEDEC 51-14标准获得器件的结构函数,进行热结构分析
可获得符合JEDEC 51-14标准的结壳热阻值(
Rth-jc
可与第三方流体仿真软件结合使用,获得器件的精准三维热模型
可与第三方流体仿真软件结合使用,获得各种器件材料及工艺相关的热学参数产品规格
高速大电流供电 (500A x 4ch)
最大开关电流:500A/10V
开关速度:50μs
内置测温小电流源
电流输出范围:-1A ~ 1A
最大输出电压:-10V ~ 10V
系统最大可配置4个供电通道,总供电能力达到2000A
数据采集
每个高速电源通道搭配4 个独立的数据采集单元,可对四个串联样品同时测量
输入范围:±5V(差分)
最大分辨率:10μV
最大采样频率:1MHz
采样模式:程控变速采样
门控电压源
每个高速电源通道搭配4 个独立的门控电压源,可提供4路门控电压
电压输出范围:-10V ~ 20V
驱动方式:隔离供电
工业计算机
搭载高品质IPC用于总体控制
鲁欧智造
www.luology.com定制工作台
标准大功率水冷板:15cm x 30cm(尺寸也可根据用户要求进行定制)
纯铜(紫铜)打造,高效散热冷却。
无焊缝、无穿孔的整体式结构,可在-20°C~180°C环境下长期使用。
搭配循环温控设备,可对器件样品进行温度系数标定。
搭配循环冷却系统,可实施大功率器件的瞬态热测试、功率循环测试。
预埋设高精度感温探头(Pt100),连接中控电脑进行测试方案设定以及安全管理。
定制化测试夹具
样品固定夹具定制、电线连接端子定制。
与水冷板搭配使用,大幅提高测试效率和测量精度。
定制化水冷系统
根据用户需求对冷却水管道系统进行定制
可提供额外水路接口
鲁欧智造